全自動(dòng)二次解析儀是一種先進(jìn)的分析儀器，主要用于材料科學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域中的樣品成分和結(jié)構(gòu)的高精度分析。
全自動(dòng)二次解析儀概述
它是一種能夠自動(dòng)完成樣品制備、測量以及數(shù)據(jù)分析等過程的精密儀器。它基于二次離子質(zhì)譜(Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS)技術(shù)，通過對樣品表面進(jìn)行離子束轟擊來實(shí)現(xiàn)對樣品成分的深度剖析。 工作原理
1.樣品制備：將待測樣品放置于真空腔內(nèi)。
2.離子束產(chǎn)生：使用高壓電場加速離子源產(chǎn)生的初級離子束(如Cs+或Ga+)，使其撞擊樣品表面。
3.二次離子產(chǎn)生：初級離子束與樣品相互作用后，會(huì)激發(fā)出樣品表面的原子或分子形成二次離子。
4.質(zhì)量分析：二次離子通過質(zhì)量分析器分離，根據(jù)質(zhì)量數(shù)的不同被記錄下來。
5.數(shù)據(jù)處理：軟件系統(tǒng)自動(dòng)收集和處理數(shù)據(jù)，生成元素分布圖或其他形式的分析結(jié)果。
特點(diǎn)
-高分辨率：可以達(dá)到原子級別的空間分辨率。
-靈敏度高：能夠檢測到極低濃度的元素。
-無損檢測：在一定條件下，樣品不會(huì)受到明顯破壞。
-自動(dòng)化程度高：減少了人為操作帶來的誤差，提高了效率。
應(yīng)用領(lǐng)域
-材料科學(xué)：研究材料表面及界面性質(zhì)。
-半導(dǎo)體工業(yè)：檢測雜質(zhì)含量及分布情況。
-環(huán)境科學(xué)：監(jiān)測污染物的分布。
-生物醫(yī)學(xué)：分析細(xì)胞組織中的微量元素分布。
技術(shù)優(yōu)勢
-快速分析：自動(dòng)化流程大大縮短了分析周期。
-精確控制：通過計(jì)算機(jī)程序精確控制分析條件。
-數(shù)據(jù)一致性：減少批次間差異，提高實(shí)驗(yàn)重復(fù)性。
發(fā)展趨勢
隨著納米科技的進(jìn)步和技術(shù)革新，全自動(dòng)二次解析儀正朝著更高的分辨率、更快的速度以及更廣泛的適用范圍發(fā)展。未來可能會(huì)出現(xiàn)更多集成化、智能化的功能，進(jìn)一步提升其在科研和工業(yè)應(yīng)用中的地位。
產(chǎn)品型號：
